Münster 1999 – scientific programme
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O: Oberflächenphysik
O 16: Teilchen und Cluster (I)
O 16.3: Talk
Tuesday, March 23, 1999, 11:45–12:00, S2
Bestimmung der Emissionstiefe von Auger-Elektronen aus langsamen hochgeladenen Ionen an Oberflächen — •Jens Mrogenda, Jens Ducrée und Jürgen Andrä — Institut für Kernphysik, Universität Münster, Wilhelm-Klemm-Strasse 9, 48149 Münster
Es wird ein Verfahren vorgestellt, mit dem sich die Emissionstiefe von Auger-Elektronen aus langsamen hochgeladenen Ionen, die mit Metalloberflächen wechselwirken, bestimmen läst. Dazu werden Auger-Spektren bei der Wechselwirkung der Ionen mit Metalloberflächen unter verschiedenen Winkeln Ψ relativ zur Oberfläche gemessen. Bei sehr kleinen Beobachtungswinkeln Ψ=0.8∘ wachsen bisher unbekannte Peaks auf der niederenergetischen Flanke der Auger-Spektren an und die Intensität auf der hochenergetischen Seite verschwindet relativ zu den Spektren mit Ψ=45∘. Diese Beobachtung läst sich durch Energieverluste bei der Anregung von einem oder mehreren Oberflächenplasmonen erklären. Durch Integration der inversen mittleren freien Weglänge über die Elektronentrajektorie kann man der Emissionstiefe zem eine mittlere Plasmonanzahl Peff zuordnen, die aus einem χ2-Fit an das 0.8∘-Spektrum gewonnen wird, indem das 45∘-Auger-Spektrums mit der Energieverlustverteilung gefaltet wird,. Durch eine spektrale Aufteilung des 45∘-Auger-Spektrums ist es dadurch möglich, die Emissionstiefe von Elektronen aus verschiedenen Auger-Übergangen zu bestimmen. Die so bestimmten Tiefen gestatten zum ersten Mal den zeitlichen Ablauf des Auffüllprozesses der inneren Schalen des Ions zu beobachten und gehen damit deutlich über eine frühere Bestimmung des mittleren KLX-Emissionsortes hinaus.