Regensburg 2016 – wissenschaftliches Programm
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Hinweis: Programmaktualisierungen erscheinen auf dem Schwarzen Brett und im persönlichen Programm. Diese statische PDF Version vom 22.01.2016 entspricht inhaltlich der Druckfassung.
Komplettes Programm
mi.pdf (414.3 KB)
Programmübersicht
misummary.pdf (120.8 KB)
Programm der einzelnen Sitzungen
| MI 1 | Tue, 09:30 - 11:00 | H5 | Electron Probe Microanalysis | mi1.pdf (206.2 KB) |
| MI 2 | Tue, 11:15 - 13:15 | H5 | Analytical Electron Microscopy: SEM and TEM-based Material Analysis | mi2.pdf (246.5 KB) |
| MI 3 | Wed, 10:00 - 12:30 | H5 | X-ray Imaging, Holography, Ptychography and Tomography | mi3.pdf (236.0 KB) |
| MI 4 | Wed, 15:00 - 15:45 | H5 | Helium and Neon Ion Microscopy for the Analysis and Structuring on the Nanoscale | mi4.pdf (202.9 KB) |
| MI 5 | Wed, 16:00 - 16:45 | H5 | Scanning Probe Microscopy | mi5.pdf (198.9 KB) |
| MI 6 | Wed, 17:00 - 17:30 | H5 | Special Talk: Solid State Characterisation with Positrons | mi6.pdf (181.2 KB) |
| MI 7 | Wed, 18:00 - 20:00 | Poster E | Poster: Microanalysis and Microscopy | mi7.pdf (255.3 KB) |
| MI 8 | Thu, 15:40 - 17:00 | H26 | Crystallography in Materials Science (KR, DF, MI) | mi8.pdf (225.9 KB) |