Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
M: Metallphysik
M 13: Innere Grenzflächen II
M 13.3: Vortrag
Dienstag, 24. März 1998, 10:50–11:10, H 33
Analyse von Verzerrungsfeldern in lamellaren Titanaluminiden — •H. Heinrich, F. Král und G. Kostorz — Institut für Angewandte Physik, ETH Zürich, CH-8093 Zürich
Einachsig orientierte lamellare TiAl/Ti3Al-Kristalle weisen ein stark anisotropes Verformungsverhalten auf. Wenn die Lamellen senkrecht oder parallel zur Verformungsachse orientiert sind, entstehen Verformungszwillinge in der γ-TiAl-Phase, die über Lamellengrenzflächen hinweg zu hohen elastischen Spannungen führen. Scherkomponenten der dadurch entstehenden Verzerrungsfelder können aus Weak-beam-Abbildungen im Transmissionselektronenmikroskop quantitativ bestimmt werden. Der Einfluß von elastischen Verzerrungsfeldern auf den Weak-beam-Kontrast von keilförmigen Proben wird in Kontrastsimulationen mit mehreren Blochwellen berechnet.