Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 25: Postersitzung, gemeinsam mit AM,DS,DF,TT,SY B

M 25.5: Poster

Donnerstag, 26. März 1998, 15:10–19:10, A (Sammelgeb"aude)

Bestimmung der Fehlpassung in einkristallinen Nickelbasislegierungen mit Hilfe der konvergenten Elektronenbeugung im Transmissionselektronenmikroskop — •C. Schulze, M. Feller-Kniepmeier, and R. Voelkl — Technische Universit"at Berlin, Institut f"ur Metallische Werkstoffe, Sekr. BH18, Stra"se des 17. Juni 135, 10623 Berlin

In Nickelbasislegierungen wird durch gezielte W"armebehandlung eine zweite Phase ausgeschieden, die koh"arent in die Matrix eingebettet ist. Aufgrund der unterschiedlichen Gitterparameter der beiden Phasen kommt es zur sog. Fehlpassung, die Koh"arenzspannungen im Material verursacht. Unter einer "au"seren Last kommt es durch die "Uberlagerungen mit der Koh"arenzspannung zu einer Ungleichverteilung der inneren Spannungen in den Matrixkan"alen (Ausnahme: [111]- Lastorientierung). Mit Hilfe der r"aumlich hochaufl"osenden konvergenten Elektronenbeugung (CBED) im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) k"onnen die Gitterparameter im Mikrogef"uge direkt bestimmt werden. Weiterhin kann man zwischen dendritischen und interdendritischen Bereichen unterscheiden. Dies werden wir am Beispiel verschieden zusammengesetzter einkristalliner Nickelbasislegierungen darstellen.