Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 12: Josephson-Elektronik

TT 12.5: Hauptvortrag

Dienstag, 24. März 1998, 15:45–16:15, H 19

Materialuntersuchungen mit SQUIDs — •Michael Mück — Institut für Angewandte Physik der JLU Gießen

Untersuchungen an einem breitem Spektrum von Materialien mit Hilfe von SQUIDs bilden ein neues Feld, das in kurzer Zeit großes Interesse gefunden hat. Ein Schwerpunkt liegt dabei in der zerstörungsfreien Prüfung von Teilen oder Werkstücken von z.B. Flugzeugen oder Kraftfahrzeugen. Hier beschäftigen sich eine Reihe von Arbeitsgruppen mit der Verwendung von SQUIDs als Magnetfeldsensoren in ansonsten konventionellen Wirbelstromprüfverfahren. Bei typischen Feldempfindlichkeiten von 1 pT/√Hz für HTS SQUIDs und Anregungsfeldern für die Wirbelströme von bis zu einigen 10 Gauß, erreicht man mit diesem Verfahren, insbesondere bei niedrigen Anregungsfrequenzen (< 1 kHz) eine bis zu tausendmal höhere Nachweisempfindlichkeit für Materialfehler, als mit Geräten, die Induktionsspulen als Magnetfeldsensoren verwenden. Ein weiteres interessantes Verfahren ist die Messung der zweidimensionalen Magnetfeldverteilung an Probenoberflächen mittels SQUIDs, wobei eine hohe Ortsauflösung (besser als 100 Mikrometer) angestrebt wird (sog. SQUID-Mikroskopie). Anwendungen hier sind u.a. die Detektion von ferromagnetischen Ausscheidungen in Edelstählen (z.B. durch Materialermüdung) oder in geologischen Proben (z.B. Bohrkernen), oder auch die Detektion von Oberflächendefekten in Bauteilen (z.B. Turbinenschaufeln) mittels hochfrequenter (bis einige MHz) Wirbelstromprüfung.