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Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DS: Dünne Schichten

DS 16: Charakterisierung mittels SXM-Techniken I

Dienstag, 23. März 1999, 09:30–11:00, PC 7

09:30 DS 16.1 Hauptvortrag: Optische Mikroskopie jenseits der Beugungsgrenze: Tatsachen, Trends und Träume — •Paul Fumagalli
10:15 DS 16.2 Hauptvortrag: Thermal nano-phase change of an Antimony thin film and the application for optical near-field data storage — •J. Tominaga and T Fukaya
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