Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

DS: Dünne Schichten

DS 9: Charakterisierungsverfahren II

DS 9.4: Vortrag

Montag, 22. März 1999, 14:45–15:00, H 55

Quantitative chemische Mikroanalyse mit einem Spektromikroskop — •Ch. Ziethen¹, O. Schmidt¹, R. Frömter², J. Gilles², J. Kirschner², C.M. Schneider³ und G. Schönhense¹ — ¹Johannes Gutenberg Universität, D-55099 Mainz — ²MPI für Mikrostrukturphysik, D-06120 Halle — ³Institut für Festkörper- und Werkstofforschung, D-01171 Dresden

Die mit der Spektromikroskopie mögliche ortsaufgelöste Röntgenabsorptionsspektroskopie (µ-XAS) gibt ein neues Potential für chemische und strukturelle Untersuchungen [1]. An zwei Beispielen wird der Frage nachgegangen, inwieweit sich neben El ment- und Orbitalverteilungsbildern auch quantifizierbare Ergebnisse ableiten lassen. Verwendet wurde dazu ein Photoemissionselektronenmikroskop (FOCUS IS- PEEM) am Monochromator PM3 bei BESSY I (Berlin). In einem natürlichen Eisenoxidmineral (Magnetit Hämatit) wurde durch Analyse der Eisen L- Kanten die lokale Stöchiometrie in Form der Elementkonzentrationsverhältnisse und der Wertigkeiten der Eisenionen bestimmt [2-4]. Bei Graphitschichten wirft die Analyse der Nahkantenstruktur (XANES) an der Kohlenstoff K- Kante neues Licht auf die Existenz von interlayer- states [5, 6]. Gefördert durch BMBF: 05621UMA2. [1] Ch. Ziethen et al., J. Elec. Spec. Rel. Phen. 88-91 (1998) 983, [2] C. Colliex et al., Phys. Rev. B 44 (1991) 11402, [3] T. Droubay et al., J. Elec. Spec. Rel. Phen. 84 (1997) 158, [4] A. D. Smith et al., J. Synchrotron Radiation 5 (1998) 1108, [5] D A. Fischer et al., Phys. Rev. B 44 (1991)1427, [6] Ch. Ziethen et al., NJP, submitted.