Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 36: Poster (II)

O 36.79: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 20:00–22:30, Zelt

LEED Reciprocal Space Mapping — •F.-J. Meyer zu Heringdorf und M. Horn-von Hoegen — Institut für Festkörperphysik, Appelstraße 2, 30167 Hannover

Für die umfassende Charakterisierung der Oberflächenmorphologie mittels Elektronenbeugung (LEED) ist es erforderlich, das Beugungsbild für möglichst viele verschiedene Elektronenenergien aufzunehmen. So zeigen rauhe Oberflächen eine charakteristische Verbreiterung bei Gegen-Phase-Bedingungen, bei facettierten Oberflächen wandern Facettenreflexe schräg durch den reziproken Raum, d.h. sie ändern ihre Position im Beugungsbild bei Veränderung der Elektronenenergie. Mit SPA-LEED lassen sich vertikale Schnitte des reziproken Raumes in kurzer Zeit durch Messungen der Reflexprofile bei sich stetig verändernden Streubedingungen (d.h. verschiedenen Energien) automatisch aufnehmen. Die Probenposition muß dazu mit einem einfachen Iterationsverfahren optimiert werden, um ein störendes Wandern der Hauptstrukturreflexe bei Veränderung der Elektronenenergie auszuschließen. Die Reflexprofile werden anschließend mit einem Softwaretool [1] zu einem vertikalen Schnitt des reziproken Raumes zusammengesetzt. Das Verfahren wird anhand der Au induzierten Facettierung von Si(hhm) (h/m=1.3-1.5) demonstriert. Mit steigender Au Bedeckung bildet sich zunächst eine rauhe Stufenfolge aus, die nach Durchlaufen mehrerer unterschiedlicher Facettenrichtungen einen Endzustand aus (111) und (113) Facetten erreicht.

[1] http://www.fkp.uni-hannover.de/FKP/SPALEED/spaleedsoft.html