Münster 1999 – wissenschaftliches Programm
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TT: Tiefe Temperaturen
TT 15: Postersitzung II: Elektronische Eigenschaften (1-12), Josephson-Kontakte (13-27), Heavy Fermions (28-40), Theorie HTSL (41-48), M-I-Überg
änge, Korrelierte Systeme (49-79)
TT 15.16: Poster
Mittwoch, 24. März 1999, 14:30–18:00, Foy
Charakterisierung von Ladungstraps in Josephson-Kontakten aus Hochtemperatur-Supraleitern† — •F. Herbstritt, T. Kemen, P. Reutler, A. Marx und R. Gross — II. Physikalisches Institut, Lehrstuhl Angewandte Physik, Zülpicher Str. 77, 50937 Köln
Josephson-Kontakte auf der Basis der oxidischen Hochtemperatur-Supraleiter (HTS) zeigen ein wesentlich höheres 1/f-Spannungsrauschen als Josephson-Kontakte aus metallischen Supraleitern. Zur Zeit nimmt man an, daß die Ursache für das starke 1/f-Rauschen in der komplexen Natur der die elektrischen Transporteigenschaften bestimmenden Grenzflächen in diesen Kontakten zu suchen ist. Unsere bisherigen Experimente haben gezeigt, daß niederfrequentes Rauschen durch korrelierte Fluktuationen der Kontaktparameter kritischer Strom und Normalwiderstand verursacht wird, wobei diese Fluktuationen durch stochastische Schwankungen der Besetzungszahl von Ladungsträger-Traps in einer isolierenden Barriere bedingt werden [1]. Unklar ist bisher die genaue Natur dieser Ladungs-Traps. Hier liefert die gezielte Analyse der Populationsdynamik in sehr kleinen Kontakten (Fläche A<0.1 µm2) weitere Aufschlüsse.
Wir stellen Ergebnisse zur detaillierten Analyse der relevanten Schaltzeiten
in Abhängigkeit von der Temperatur, von der am Kontakt anliegenden Spannung
und von einem externen Magnetfeld für bikristalline Josephson-Kontakte mit
sub-µm Abmessungen vor.
† Gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft
[1] A. Marx et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 7, 2719 (1997)