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Bonn 2000 – scientific programme

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MS: Massenspektrometrie

MS 3: Beschleunigermassenspektrometrie

MS 3.7: Talk

Tuesday, April 4, 2000, 15:30–15:45, HS VII

Messung von 26Al bei tiefen Energien — •Jürgen A. Scheer1, Stefan Jakob1, Martin Suter1 und Hans-Arno Synal21Institut für Teilchenphysik, ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz — 2Paul Scherrer Institut, c/o ETH Hönggerberg, 8093 Zürich, Schweiz

An der ETH Zürich ist eine neue AMS Anlage aufgebaut worden, die mit wesentlich tieferen Terminalspannungen als bisher üblich arbeitet und dementsprechend auch wesentlich kleiner ist. Diese Anlage ist primär für 14C-Messungen ausgelegt, und nun wird untersucht, inwiefern sie sich zur Analyse von 26Al eignet. Erste Messungen bei einer Terminalspannung von 460 kV ergaben, dass Ausbeuten von etwa 30 % erreicht werden, was vergleichbar ist mit den Ausbeuten an Anlagen, die mit viel höherer Terminalspannung betrieben werden. Weiterhin zeigte sich, dass der molekulare Untergrund weitgehend eliminiert werden kann. Das Potential dieser neuen Anlage im Vergleich zu bereits bestehenden wird diskutiert.

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