Q 38: Poster: Optische Technik
Thursday, April 6, 2000, 16:30–19:30, Aula
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16:30 |
Q 38.1 |
Strahlcharakterisierung mit dem Shack-Hartmann-Verfahren — •Bert Neubert, Günter Huber und Wolf Dieter Scharfe
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Q 38.2 |
Ti:Saphir Laser für weißlichtinterferometrische Messungen — •Dieter Lorenz, Ingo Brandenburg, Kay Mittler und Ralf Menzel
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Q 38.3 |
Resonanzbreiten und Krümmungskorrekturen zur Fresnel-Formel in dielektrischen Zylindern — •Martina Hentschel und Jens Noeckel
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Q 38.4 |
Ein Wellenlängenmessgerät und Fourierspektrometer hoher Genauigkeit — •Uwe Sterr und Hans–Peter Weßelhöft
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Q 38.5 |
Parallel-Processing in der Zwei-Photonen-Mikroskopie: 3D-Visualisierung und zeitaufgelöste Spektroskopie an Zellen — •Matthias Fricke, Tim Nielsen und Peter Andresen
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Q 38.6 |
Zustandsselektiver Nachweis einzelner Rubidium Atome — •M. Hennrich, T. Legero, T. Bondo, A. Kuhn und G. Rempe
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Q 38.7 |
Phasensingularitäten in der Umgebung dreidimensionaler sub-µm-Strukturen — •Manfred Eberler, Susanne Quabis, Ralf Dorn, Oliver Glöckl und Gerd Leuchs
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Q 38.8 |
3D-Bildgebung mittels 2-Farben-Interferometrie — •J. Trautner, K. Walcher, Gerd Leuchs, B. Bodermann und H.R. Telle
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