Regensburg 2000 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 11: Postersession (Eröffnung)

O 11.85: Poster

Monday, March 27, 2000, 19:00–22:00, Bereich C

Aperturlose Nahfeldmikroskopie mit Interferenzkontrast — •Rainer Hillenbrand und Fritz Keilmann — MPI fuer Biochemie, D-82152 Martinsried

Die Grundlage der optischen Nahfeldmikroskopie ist die Streuung von Laserlicht an der optischen Wechselwirkungszone zwischen Probe und einer metallischen bzw. dielektrischen Spitze. Obwohl Amplitude und Phase des gestreuten Lichts von den optischen Eigenschaften (komplexer Brechungsindex) der Probe abhängig sind, wird meist nur die Intensität der Streustrahlung gemessen. Wir hingegen präsentieren ein aperturloses Nahfeldmikroskop, das uns die simultane Messung beider optischer Grössen ermöglicht. Das Mikroskop basiert auf einem konventionellen Tapping-Mode AFM, wobei die Spitzen kommerzieller Cantilever als Streusonden Anwendung finden. Die Detektion des Streulichts erfolgt mit Hilfe eines heterodynen Interferometers. In ersten Bildern von dünnen Metallfilmen bzw. -inseln demonstrieren wir nahfeldoptischen Amplituden- und Phasenkontrast.