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Regensburg 2000 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 16: Rastersondentechniken (II)

Tuesday, March 28, 2000, 11:15–13:00, H44

11:15 O 16.1 Neue Methode zur Herstellung von Nahfeldsonden mit hoher Transmission — •Thomas Held, Stephanie Emonin, Olaf Hollricher und Othmar Marti
11:30 O 16.2 Abbildung interner Strukturen der Schreibmarken optischer Disks mit dem Depolarisations-SNOM — •M. Leuschner, M. Schüttler und H. Giessen
11:45 O 16.3 Aufbau eines Prototyps für die Massenspeicherung basierend auf Rastersondenverfahren — •J. Isenbart, A. Born und R. Wiesendanger
12:00 O 16.4 Simulationen zur Rasterkapazitätsmikroskopie — •O. Krause, A. Born und R. Wiesendanger
12:15 O 16.5 Quantitative Rasterkapazitätsmikroskopie für die Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen — •A. Born, O. Krause, J. Isenbart und R. Wiesendanger
12:30 O 16.6 Dotierprofilanalyse von Halbleitermikrostrukturen mittels Scanning Spreading Resistance Microscopy — •V. Hagen, A. Born, J. Isenbart, and R. Wiesendanger
12:45 O 16.7 Untersuchung von ligandenstabilisierten Metallclustern mittels SPM — •C. Bartsch, A. Born und R. Wiesendanger
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