Bonn 2001 – scientific programme
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T: Teilchenphysik
T 202: Halbleiterdetektoren 2
T 202.7: Talk
Tuesday, March 27, 2001, 15:30–15:45, HS IX
Untersuchung zur Strahlungshärte von sauerstoffversetzten Silizium-Mikro-Streifen-Detektoren — •Frank Hartmann, Th. Müller, W. de Boer, K. Kärcher, P. Blüm, H.-J. Simonis, Ch. Piasecki, E. Grigoriev, A. Dierlamm, T. Weiler, G. Dirkes und Stefan Heier — Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe
Die Vertexdetektoren des CMS-Experiments werden im Zeitraum von 10 Jahren einer starken Strahlenbelastung ausgesetzt sein; dies wiederum setzt eine sehr hohe Strahlungshärte voraus. Neuere Erkenntnisse zeigen eine höhere Strahlungsresistenz bei Detektormaterial mit geringen Mengen Sauerstoff. Wir präsentieren das Verhalten von sauerstoffversetzten Detektoren (4") nach einer Bestrahlung von 2 · 1014 Protonen im Labor und im Pionen-Strahl am PSI.