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HL: Halbleiterphysik

HL 6: Optische Eigenschaften

HL 6.6: Talk

Monday, March 26, 2001, 11:45–12:00, S9/10

Intensitätsabhängige Reflektion von Quantenfilmen in Mikroresonatoren — •Christian Sieh, Torsten Meier und Stephan W. Koch — Fachbereich Physik und Wissenschaftliches Zentrum für Materialwissenschaften, Philipps-Universität, Renthof 5, 35032 Marburg

Die Reflektion eines Quantenfilms in einem VCSEL-artigen Mikroresonator wird berechnet. Im Mikroresonator kommt es im Bereich starker Kopplung zwischen Exziton und Resonatormode zur sogenannten Normalmodenaufspaltung. Anregung einer oder beider dieser Moden mit einem schwachen Pump-Puls führt polarisationsabhängig zu einer Verkleinerung bzw. Vergrößerung der Aufspaltung[1]. Änderungen der Reflektion bei Erhöhung der Intensität des anregenden Pulses werden im Rahmen der kohärenten χ⁽⁵⁾-Gleichungen[2] für das Material untersucht.

[1] C. Sieh et al., Eur. Phys. J. B 11, 407 (1999).

[2] T. Meier et al., Phys. Rev. B 62, 4218 (2000).