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TT: Tiefe Temperaturen

TT 19: Korngrenzen in HTSL

TT 19.8: Vortrag

Donnerstag, 29. März 2001, 11:15–11:30, H

Bikristallexperimente an epitaktischen Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O_10+δ-Dünnschichten — •J. Hänisch, A. Attenberger, L. Schultz und B. Holzapfel — IFW Dresden, Helmholtzstr. 20, 01096 Dresden

Dünne Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O_10+δ-Schichten wurden mittels gepulster Laserdeposition auf SrTiO₃-Substraten hergestellt. Die Schichten wachsen epitaktisch, sind röntgenographisch phasenrein und zeigen Sprungtemperaturen T_c < 98K. Die elektrischen Transporteigenschaften von [001]-Kippkorngrenzen, die auf kommerziellen SrTiO₃-Bikristallen hergestellt wurden, wurden an photolithographisch strukturierten und naßchemisch geätzten Stegen gemessen. Dazu wurden Strom-Spannungs-Kennlinien für mehrere Korngrenzenwinkel θ in äußeren Magnetfeldern und bei verschiedenen Temperaturen gemessen. Die Korngrenzen mit θ> 8^∘ zeigen ausschließlich SNS-artiges Verhalten, was sich in einem Überschußstrom in den I(U)-Kennlinien, in der quadratischen Abhängigkeit der kritischen Stromdichte von der Temperatur j_c∼ (1−T/T_c)² nahe T_c, und in der Temperaturabhängigkeit des Quasiteilchenwiderstandes ρ_n bemerkbar macht. Bei Korngrenzenwinkeln θ< 8^∘ wird j_c vom flux creep in den Elektroden begrenzt.