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M: Metallphysik
M 26: Postersitzung
M 26.7: Poster
Donnerstag, 14. März 2002, 14:30–16:30, Saal C
Bestimmung der Phasenkohärenzlänge elektronischer Au(111)-Oberflächenzustände mittels Raster-Thermospannungs-Mikroskopie — •M. Wenderoth, K.J. Engel, N. Quaas, J. Garleff und R.G. Ulbrich — IV. Physikalisches Institut der Universität Göttingen, Bunsenstr. 13, 37073 Göttingen
Wir haben das Interferenzmuster elektronischer Oberflächenzustände auf Au(111) (2D-Elektronengas) experimentell untersucht. Werden Elektronen an geradlinigen, monatomaren Stufen gestreut, zeigen sich stehende Wellen in der lokalen Zustandsdichte. Das Interferenzmuster wurde mit einem Ultrahochvakuum-Tieftemperatur-STM durch Messung der lokalen Thermospannung am Tunnelkontakt kartiert [1]. Wir analysieren die Form der Einhüllenden des Interferenzmusters, um Aussagen über die Phasenkohärenzlänge Lϕ (bzw. die Lebensdauer τϕ=Lϕ/vF) von Oberflächenzuständen bei der Fermienergie EF zu erhalten. Im Gegensatz zu dI/dU-Messungen, in denen die Einhüllende der stehenden Wellen mit dem Abstand von der Stufe monoton abklingt, zeigt die Thermospannung für die stehenden Wellen ein Einhüllendenmaximum bei einem charakteristischen Abstand von der Stufe, welcher neben Δ T und T insbesondere von Lϕ abhängt. Die Analyse der Daten liefert neue, experimentell bestimmte untere Grenzwerte für Lϕ bei 300 K und 80 K. Sie bestätigen theoretische Überlegungen, wonach bei EF die Elektron-Phonon-Streuung als dominanter phasenzerstörender Prozess auftritt.
Diese Arbeit wurde von der DFG im Rahmen des SFB 345 gefördert.
[1] K.J. Engel et al., Phys. Rev. B 63, 165402 (2001)