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Berlin 2005 – wissenschaftliches Programm

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M: Metallphysik

M 32: Poster TU B (Symposium Tomographic Methods in Materials Research M-32.32-55)

M 32.13: Poster

Montag, 7. März 2005, 14:30–16:30, Poster TU B

Strahlungsinduziertes Glätten innerer und äußerer Grenzflächen und Kornwachstum in Ni-Ag-Bilayern — •J. Petersen1, K. Zhang2 und S. G. Mayr11I. Physikalisches Institut, Universität Göttingen, Friedrich-Hund-Platz 1, D-37073 Göttingen — 2II. Physikalisches Institut, Universität Göttingen, Friedrich-Hund-Platz 1, D-37073 Göttingen

Es wurden Ni(45nm)-Ag(45nm)-Bilayer mit 300keV Xe+-Ionen unterschiedlicher Fluenzen bestrahlt. Ionenbestrahlung bietet die Möglichkeit, innere und äußere Grenzflächen zu modifizieren und optimieren. Die wesentlichen morphologischen Änderungen in metallischen Systemen umfassen Glättung bzw. Aufrauung von Grenzflächen, sowie strahlungsinduziertes Kornwachstum. Neben Weitwinkel- und Kleinwinkelröntgenbeugungsmessungen wurde versucht, mittels Rastersondenmikroskopie und chemischen Ätzens direkt die Grenzfläche zu untersuchen. Das Ziel ist, die der Grenzflächenmodifikation zugrunde liegenden atomaren Mechanismen zu identifizieren. Eine wesentliche Rolle kommt hierbei dem thermal spike zu, der einerseits eine Strukturglättung durch viskoses Fließen hervorrufen kann, andererseits auch Rauigkeit und Ionenmischen induziert. Dieses Projekt wird im Rahmen des SFB 602 von der DFG gefördert.

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