Bonn 2010 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 58: Halbleiterdetektoren I

T 58.8: Talk

Monday, March 15, 2010, 18:30–18:45, HG VI

Elektrisches Auslesesystem für Multi-Modul Labortests des ATLAS Pixel-Detektors — •Matthias George, Jörn Grosse-Knetter, Nina Krieger, Arnulf Quadt und Jens Weingarten — II. Physikalisches Institut, Universität Göttingen

Die innerste Komponente des ATLAS Spurdetektors ist der Pixel-Detektor. Er besteht aus drei zylindrischen Lagen und drei Endkappen-Scheiben, welche per optischer Datenübertragung ausgelesen werden. Auf Grund von Strahlenschäden, die im Laufe des Messbetriebs am Sensormaterial auftreten, ist es erforderlich, einige Komponenten des Pixel-Detektors zu ersetzen. Die hierfür neu entwickelten Detektormodule müssen vor dem Einbau intensiven Tests, z.B. der Ausleseelektronik, unterzogen werden. Dabei ist es oft von Vorteil die komplexe optische Auslesekette durch eine elektrische Auslese zu ersetzen. Dieser Vortrag behandelt ein elektrisches FPGA-basiertes Auslesesystem, welches die Datenauslese eines ATLAS Pixel-Moduls für Testmessungen mit Datenraten von 40MBit/s, 80MBit/s und 2x80MBit/s unterstützt.