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Dresden 2013 – scientific programme

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T: Fachverband Teilchenphysik

T 62: Halbleiterdetektoren: Forschung und Entwicklung 2

T 62.7: Talk

Monday, March 4, 2013, 18:20–18:35, GER-007

Lorentzwinkelmessungen an hoch bestrahlten Silizium-StreifensensorenTobias Barvich1, Felix Bögelspacher1, Wim deBoer1, Alexander Dierlamm1, Frank Hartmann1, Karl-Heinz Hoffmann1, Julius Krause1, Thomas Müller1, •Andreas Nürnberg1, Mike Schmanau1, Max Schmenger1, Theo Schneider2 und Pia Steck11Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP), KIT — 2Institut für Technische Physik (ITEP), KIT

Durch den geplanten Ausbau des LHC zum HL-LHC werden die Siliziumdetektoren des CMS-Spurdetektors noch höheren Teilchenflüssen ausgesetzt sein, als bisher. Für den notwendigen Austausch des Detektors werden gegenwärtig verschiedene Siliziummaterialien auf ihre Strahlenhärte und auf ihre Eignung als mögliches Sensormaterial für den neuen Detektor untersucht. Die Siliziumsensoren sind dem 3.8T starken Magnetfeld innerhalb des Detektors ausgesetzt, weshalb die Ortsauflösung des Spurdetektors durch den Lorentzwinkel beeinflusst wird. Aus diesem Grund wurden Lorentzwinkelmessungen bei Magnetfeldstärken bis 8T an gemischt bestrahlten Streifensensoren durchgeführt. Um den Einfluss von Wartungsperioden, in denen der Detektor möglicherweise mehrere Tage oder Monate ungekühlt verbleibt abschätzen zu können, wurden die Sensoren einer gezielten Wärmebehandlung unterzogen und erneut im Magnetfeld untersucht. Die Studie deckt dabei sowohl den Bereich des kurzfristigen, beneficial Annealings als auch den langfristigen, eher schädlichen Bereich des reverse Annealings ab.

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