Dresden 2014 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Aktualisierungen | Downloads | Hilfe
MI: Fachverband Mikrosonden
MI 2: Untersuchung von kondensierter Materie mittels Positronen-Annihilation
MI 2.1: Hauptvortrag
Montag, 31. März 2014, 10:00–10:45, MER 02
Positronenstrahl-Mikroanalyse - Möglichkeiten und Herausforderungen — •Torsten E.M. Staab1, Matz Haaks2,3 und Karl Maier2 — 1LCTM, Universität Würzburg, Röntgenring 11, D-97070 Würzburg, Germany — 2HISKP, Universität Bonn, Nußallee 14-16, D-53115 Bonn, Germany — 3Aero-Laser GmbH, Unterfeldstr. 12, D-82467 Garmisch Partenkirchen
Während eine Elektronenstrahl-Mikrosonde die 2-dimensionale Abbildung der Verteilung von Elementen im Mikrometerbereich mittels deren charakteristischer Röntgenstrahlung ermöglicht, kann eine entsprechende 2-dimensionale Abbildung von leerstellenartigen Gitterbaufehlern durch eine Positronenstrahl-Mikrosonde erfolgen, da Positronen sensitiv auf Leerstellen und leerstellenartige Gitterbaufehler in Festkörpern sind. Dabei können nicht nur Leerstellen an sich sondern auch deren atomare Umgebung charakterisiert werden.
Neben verschiedenen Anwendungsmöglichkeiten der Positronenstrahl-Mikrosonde – eines modifizierten Rasterelektronenmikroskops – werden Beispiele zur Messung und zur Identifikation von Fehlstellen in Halbleitern und Aluminiumlegierungen mit Positronen gezeigt. Kombiniert mit anderen Methoden wie der Röntgenabsoptionsspektroskopie (XAFS) und der Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS), ergibt sich ein komplementäres Bild des Wechelspiels von Leerstellen und Legierungsatomen in Aluminiumlegierungen. Mit ab-initio Rechnungen ermittelte Atompositionen um Gitterbaufehler dienen dazu, Spektren zu simulieren, die dann direkt mit experimentellen Daten verglichen werden.