Göttingen 1997 – wissenschaftliches Programm

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HK: Hadronen und Kerne

HK 59: Postersitzung

HK 59.1: Poster

Donnerstag, 27. März 1997, 14:00–16:30, P

Transiente Magnetfelder für schnelle ²⁴Mg(2⁺)- und ²⁸Si(2⁺)- Ionen in amorphen Fe₈₀B₂₀ und Fe₈₅B₁₅⁺ — •L. Kleinen¹, K.-H. Speidel¹, A. Gohla¹, H. Busch¹, U. Grabowy¹, G. Jakob², R. Ernst¹, V. Roth¹ und J. Gerber³ — ¹Institut für Strahlen- und Kernphysik, Universität Bonn, Nußallee 14-16, 53115 Bonn, Germany — ²Physik-Dept., Technische Universität München, 85748 Garching, Germany — ³Centre de Recherches Nucléaires, 67037 Strasbourg Cedex, France

Zur Eichung des Transienten Magnetfeldes und insbesondere zur Bestimmung des Stärkeparameters ’a’ gemäß der empirischen Parametrisierung, B_TF=a· Z· v/v₀ (v₀=c/137), wurden TF Messungen an den schnellen Sondenionen ²⁴Mg(2⁺) in Fe₈₅B₁₅ und ²⁸Si(2⁺) in Fe₈₀B₂₀ durchgeführt. Die Sondenzustände wurden über Projektilanregung durch Rückstreuung von 100 MeV ²⁴Mg- und 150 MeV ²⁸Si-Ionenstrahlen, die von den Tandembeschleunigern in Köln und München zur Verfügung gestellt wurden, an einer 3-5 mg/cm² dicken Goldschicht bevölkert. Die gestreuten Ionen wurden in einem Si-Ringdetektor nachgewiesen. Dem Gold vorgelagert waren 1.5-1.8 mg/cm² dünne Schichten der amorphen Verbindung, in denen TF-Präzessionen stattfanden. Dünne FeB-Schichten konnten durch Schleifen und Ätzen aus 20 µ m dicken Folien hergestellt werden. Die Präzessionen der 2⁺-Zustände wurden in bekannter Weise durch Beobachtung der anisotropen γ -Winkelkorrelationen ermittelt.
⁺) gefördert durch DFG und BMBF