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Q: Quantenoptik

Q 24: Poster IIc: Optik und optische Technik

Q 24.4: Poster

Dienstag, 4. März 1997, 18:00–20:00, Phil. Fak.

Aufbau eines Nahfeldmikroskops unter Verwendung einer AFM Nadel als Streuzentrum — •F. Pyczak, J. Ammon, S. Quabis und G. Leuchs — Physikalisches Institut, Lehrstuhl für Optik, Universität Erlangen-Nürnberg, Staudtstr. 7/B2, 91058 Erlangen

Neben dem üblichen Einsatz von Nanoaperturen wurden in den letzten Jahren alternative Methoden zur Detektion evaneszenter Wellen in der Nahfeldmikroskopie entwickelt. Wir stellen die Kombination eines kommerziellen Rasterkraftmikroskops mit einem SNOM vor, wobei wir die AFM-Nadel als Streuzentrum für die evaneszenten Felder nutzen.

Auf Grund der Wechselwirkung von Detektor und Probe ist eine Interpretation der Bilder oft schwierig. Näherungsfreie Simulationsrechnungen auf der Basis der dyadischen Greensfunktionen sollen vorgestellt werden. Unter Berücksichtigung der Polarisation werden Feldverteilungen berechnet, wobei auch der Einfluß der Nadel explizit behandelt wird.