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AM: Magnetismus

AM 18: Postersitzung Fürstenberghaus

AM 18.8: Poster

Mittwoch, 19. März 1997, 14:30–17:30, F"u

In–Situ–Neutronenreflektometrie an ultradünnen Fe–Schichten auf V(110) — •T. Nawrath, H. Fritzsche, F. Klose, J. Nowikow und H. Maletta — Hahn–Meitner–Institut, Glienickerstr. 100, 14109 Berlin

Wir berichten über eine neue in–situ–Untersuchungsmethode ultradünner Fe–Schichten mit polarisierten Neutronen am Reflektometer. Die Fe–Filme wurden mittels Molekularstrahl–Epitaxie unter den üblichen Ultrahochvakuum–Bedingungen hergestellt. Die Filmstruktur wurde mit Low Energy Electron Diffraction (LEED) und Auger Electron Spectroscopy (AES) untersucht. Die LEED–Bilder zeigen, daß die Fe–Schichten epitaktisch aufwachsen in der durch das Substrat vorgegebenen (110)–Orientierung.

Die magnetischen Eigenschaften der unbedeckten Fe–Schichten konnte im UHV durch Reflektometrie polarisierter Neutronen bestimmt werden. Die geringe Wechselwirkung der Neutronen mit dem V–Substrat erlaubt es, das magnetische Moment mit Monolagenempfindlichkeit zu bestimmen. Die Fe–Filme zeigen bis zu einer Schichtdicke von 10 Å ferromagnetische Ordnung. Für Schichtdicken kleiner 6 Å existiert bis zu einer Temperatur von 80 K keine in–plane–Magnetisierungskomponente.