Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 4: Gläser

Dienstag, 18. März 1997, 15:20–16:20, R2

	15:20	DF 4.1	Zeit- und Geschwindigkeitsabh"angigkeit der Deformation im Mikro- und Nanometerbereich — •S. Mosch, H. Meinhard, and P. Grau
	15:40	DF 4.2	XPS-Studien an Ca-Mg-Al-Si-O-N Oxynitridgläsern — •M. Schneider, V. A. Gasparov und W. Richter
	16:00	DF 4.3	Ermittlung von Größe und Konzentration submikroskopischer Kupferpartikel in Gläsern mittels Spektralellipsometrie — •S. KÜRBITZ, J. PORSTENDORFER und K.-J. BERG