Münster 1997 – wissenschaftliches Programm
Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe
M: Metallphysik
M 19: Postersitzung
M 19.21: Poster
Donnerstag, 20. März 1997, 15:00–19:00, Aula
Vergleichende In-situ-Positronenlebensdauermessungen an zug- und schwach wechselverformten Kupfereinkristallen — •S. Hansen, U. Holzwarth, T. Wider und K. Maier — Institut für Strahlen- und Kernphysik, Nußallee 14-16, D-53115 Bonn
Auf Basis einer 72Se/72As-Quelle wurde ein Meßverfahren entwickelt, mit dem In-situ-Positronenlebensdauermessungen an zug- und wechselverformten Kupfereinkristallen durchgeführt wurden.
Kupfereinkristalle wurden sukzessive bis zu einer Abgleitung von γpl=0.6 gezogen oder im dehnungsgeregelten (γtot) Wechselverformungsexperiment wenige Zyklen bei großen Amplituden (γpl ≈ 1 · 10−2) bis zum Erreichen einer kumulativen Abgleitung (γcum = 4Nγpl, N=Zyklenzahl) von ebenfalls 0.6 verformt. Innerhalb einer Hystereseschleife mit γpl≈ 1 · 10−2 können mit Positronen keine signifikanten Unterschiede aufgelöst werden.
Vergleicht man die Zunahme der Positronenlebensdauer τe+ in Abhängigkeit von der Abgleitung γpl bzw. der kumulativen Dehnung, so stellt man fest, daß τe+ im Zugversuch schneller ansteigt als im Wechselverformungsexperiment. Im Zugversuch wird nach einer Abgleitung von γpl ≈ 0.4 ein Sättigungswert von τe+ erreicht, der ca. 20 % über dem Anfangswert des unverformten Kristalls liegt. Im untersuchten Bereich ergeben sich für identische Werte der Scherspannung τ bzw. der Scherspannungsamplitude τ dieselben Positronenlebensdauern.