Münster 1997 – wissenschaftliches Programm

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O: Oberflächenphysik

O 37: Struktur reiner Metalloberflächen

O 37.6: Vortrag

Freitag, 21. März 1997, 12:30–12:45, S 10

Untersuchung der Segregation von Pt in Pt₂₅Rh₇₅-(100) u. (111) mittels LEIS, LEED und STM — •E. Platzgummer, M. Sporn, W. Hebenstreit, M. Schmid, W. Hofer und P. Varga — Inst. f. Allgemeine Physik, TU Wien, Wiedner Hauptstraße 8–10, A-1040 Wien

Die Segregation von Platin in Pt₂₅Rh₇₅ Einkristallen [Temperaturbereich 300 bis 1400K] wurde für die reinen (100)- und (111)-Oberflächen anhand verschiedener Methoden untersucht. LEIS-Messungen durchgeführt mit 1kV He⁺-Ionen liefern für die erste Monolage beider Orientierungen eine starke Anreicherung von Pt (um bis zu 50 Atom%). Für die Quantifizierung der Oberflächenzusammensetzung durch LEIS wurden Standardmessungen für die Reinelemente verwendet, wobei sich die Genauigkeit dieser Methode ( 2%) durch chemisch aufgelöste STM-Bilder bestätigen läßt. Für die tieferen Lagen wurde nach verschiedenen Ausheiltemperaturen eine quantitative LEED I/V-Analyse durchgeführt und deren Konzentrationsprofile mit AES-Messungen verglichen. Hierbei zeigt sich ähnlich wie bei Pt₂₅Ni₇₅ [1] eine Pt-Abreicherung in der zweiten Lage bezogen auf die Volumenkonzentration.

Unterstüzt durch den Fonds zur Förderung der wissenschaftlichen Forschung (S6204, P10492).

[1] Y.Gauthier Surf. Rev. Lett. in press