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PO: Polymerphysik

PO 4: Poster: Oberflächen und Grenzflächen

PO 4.21: Poster

Montag, 17. März 1997, 15:30–17:30, Gg

Kristallstruktur orientierter Poly(di-n-hexylsilan)-Filme — •A. Fuchs¹, T. Pieper², B. Heise¹, W. Wilke¹, L. Schwegler³ und M. Möller³ — ¹Abteilung für Experimentelle Physik, Universität Ulm — ²c/o Abteilung für Experimentelle Physik, Universität Ulm — ³Abteilung für Organische Chemie (Makromoleküle), Universität Ulm

Polysilane sind linear verknüpfte Si-Si-Polymere, die aufgrund ihrer organischen Seitenketten kolumnare Mesophasen ausbilden können. Sie zeigen ausgeprägte elektrooptische und Halbleiter-Eigenschaften als direkte Konsequenz der σ-Konjugation entlang der Si-Hauptkette. Die Kontrollierbarkeit von Konformation und Orientierung der Hauptketten bildet die Basis für die Nutzung der Struktur-Eigenschaftsbeziehungen und setzt Präparationsmethoden auf molekularer Ebene voraus. Poly(di-n-hexylsilan) wurde in der Mesophase auf verschiedenen Substraten durch Verschmieren zu dünnen Filmen orientiert. Optische Mikroskopie, AFM, UV- und IR-Spektroskopie sowie röntgenographische Methoden wie Texturanalyse, Diffraktometrie unter streifendem Einfall (DESY) und Pulverdiffraktometrie wurden zur Charakterisierung von Orientierung und Struktur verwendet. Die mit diesen Methoden bestimmten Orientierungsparameter werden verglichen. Aus der Reflexindizierung ergeben sich verschiedene Möglichkeiten für Elementarzelle und Kettenkonformation, die nicht mit den Werten von Farmer et. al. [1] übereinstimmen.

[1] S.S.Patnaik, B.L.Farmer, Polymer 33 (21), 4443 (1992)