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P: Plasmaphysik

P 28: Sonstiges (Poster)

P 28.12: Poster

Monday, March 9, 1998, 18:00–20:00, P 2

XUV-Spektroskopie und Z-Pinch-basierte Röntgenlaserforschung am Tokyo Institute of Technology — •B. Bayerlein¹, T. Hosokai², K. Hazune², M. Nakajima², A. Tauschwitz¹, E. Eberl¹, D. H.H. Hoffmann¹ und K. Horioka² — ¹Universität Erlangen, Physikalisches Institut Abt. I, Erwin-Rommel-Str. 1, D-91058 Erlangen, Germany — ²Department of Energy Sciences, Tokyo Institute of Technology, 4259 Nagatsuta, Midori-ku, Yokohama 226, Japan

Am Tokyo Institute of Technology wurde ein neues kosteneffektives XUV-Grazing incidence Spektroskop entwickelt. Ein Flat-focal-field Gitter erspart das entlangscannen am Rowlandkreis, und dank einer beweglichen MCP reicht der Observationsbereich von 5 nm bis über 60 nm. Ein vorgeschalteter Röntgenspiegel schützt das Gitter. Zeitauflösung von 2 ns wird erzielt durch Gaten der MCP über einen einfachen, schnellen 1,2 kV Transistor-Pulser. Mit Hilfe einer Hohlkathodenlampe wurden Kalibrationsspektren von Neon, Argon und Helium im Bereich 30-60 nm und einer Auflösung von besser als 1 Angström aufgenommen. Ausserdem werden Spektren von Z-Pinch-Entladungsplasmen des japanischen Pulsgenerators LIMAY-I (200kA mit 20 ns Anstiegszeit) und der aktuelle Stand der dortigen Röntgenlaserforschungen präsentiert.