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P: Plasmaphysik

P 29: Diagnostik (Poster)

P 29.44: Poster

Tuesday, March 10, 1998, 16:00–18:00, P 2

Stark-Effekt der Feinstruktur von H_α — •T. Rieper, H. Bäcker, M. Wessing, D. Scheel und V. Helbig — Institut für Experimentelle und Angewandte Physik, Christian-Albrechts-Universität Kiel

Rechnungen haben ergeben, daß die Starkeffektverschiebung der Feinstrukturkomponenten der H_α-Linie in dem für die Diagnostik technischer Entladungen interessanten Feldstärkebereich zwischen 0 und 250 V/cm von der Größenordnung der Feinstruktur selber ist. Dopplerfreie Spektroskopie an der H_α-Linie sollte deswegen eine empfindliche Feldstärkemessung ermöglichen. Der instrumentelle Aufwand ist bei Einsatz moderner Diodenlaserspektrometer vergleichsweise gering, so daß das Verfahren für den täglichen Laboreinsatz geeignet ist.

Das entwickelte Diodenlaserspektrometer wird vorgestellt. Erste Messungen zum Test des Verfahrens wurden im Fallgebiet einer Niederdruckentladung durchgeführt.