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PO: Polymerphysik
PO 6: Poster: Dünne Filme
PO 6.9: Poster
Wednesday, March 11, 1998, 15:25–17:15, P1
Nichlinearoptische Rastersondenmikroskopie zur Untersuchung der lateralen polaren Orientierungsordnung in gepolten Polymeren — •R. Blum, M. Adameck, A. Ivankov und M. Eich — AB Materialien der Mikroelektronik, TU Hamburg–Harburg, Martin–Leuschel–Ring 16, D–21071 Hamburg
Wir stellen eine neuartige Methode der Rastersondenmikroskopie vor,
mit der sich hochaufgelöst die laterale polare
Orientierungsverteilung in einem hochfeldgepolten elektrooptischen
(EO) Polymer bestimmen läßt (Scanning Second Harmonic Microscopy:
SSHM) [1]. Der gepolte dünne Polymerfilm wird dabei von einem sehr
scharf gebündelten IR-Laserstrahl abgerastert und die aufgrund der
lokalen Nichtzentrosymmetrie entstehende optische zweite Harmonische
wird detektiert. In Kombination mit einer EO-Ellipsometriemethode und
einer ebenfalls neuartigen Kontaktpotential-Rastermethode entsteht
daraus eine χ2 und Mikro-Kelvin-Topographie der Probe. Damit ist
erstmalig die physikalische Untersuchung von Inhomogenitäten
möglich, die typischerweise bei der Hochfeldpolung auftreten und
sich nachteilig auf die Herstellung von integrierten optischen
Bauelementen auswirken. Aus den Erkenntnissen wird eine Strategie zur
Reduktion dieser Inhomogenitäten entwickelt.
[1] J. Vydra, M. Eich, Appl. Phys. Lett., in press, 1997