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T: Teilchenphysik

T 209: Spurkammern II

T 209.8: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 10:15–10:30, HS J

Systematische Untersuchung der Parameter von GEM-Kammern — •C. Büttner¹, J. Benlloch², A. Bressan², M. Capeáns², M. Gruwe², M. Hoch², L. Ropelewski², F. Sauli², A. Sharma² und R. Veenhof² — ¹Institut für Experimentelle Kernphysik, Universität Karlsruhe — ²CERN

Es sollen die Abhängigkeit der Gasverstärkung vom Gasgemisch und die Eigenschaften der Kombinationen GEM (Gas Electron Multiplier) und Vieldrahtkammer sowie GEM und Multistreifenkammer vorgestellt werden. GEM besteht aus einer dreischichtigen Folie, wobei zwei Metallagen (Kupfer, 15 µ m) durch einen Isolator (Kapton, 50 µ m) getrennt sind. Elektronen aus dem Gasraum werden in den Kanälen, die die GEM-Folie durchdringen, vervielfacht. Mit einer einzelnen GEM-Folie erhält man Vorverstärkungsfaktoren um 100; mit einer Kombination zweier solcher Folien kann man Vorverstärkungen von 1000 erreichen.