Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

AKE: Arbeitskreis Energie der DPG

AKE 8: Postersitzung AKE

AKE 8.4: Poster

Dienstag, 24. März 1998, 12:00–13:00, H32

PCVD-Charakterisierung von siebgedruckten Si-Solarzellen — •B. Bitnar, R. Glatthaar, G. Willeke, and E. Bucher — Universit"at Konstanz, Physikalische Fakult"at, Fach X916, 78457 Konstanz

Die PCVD(PhotoCurrent/Voltage Decay)-Me"smethode erlaubt die Bestimmung des Emitter-S"attigungsstroms sowie der Rekombinationsgeschwindigkeit am Back-Surface Field von fertig prozessierten Solarzellen. Dabei werden die Solarzellen mit einer gepulsten Laserdiode beleuchtet und die exponentiellen Abklingraten des Stroms sowie der Spannung gemessen. Siebgedruckte Solarzellen, deren Vorderseite mit einem PECVD-Siliziumnitrid passiviert ist, werden mit unterschiedlichen Emittern prozessiert und in Verbindung mit CV- und Spectral Response Messungen bez"uglich der Passivierung der Oberfl"achen charakterisiert.