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Regensburg 1998 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 10: Charakterisierungsverfahren I

Tuesday, March 24, 1998, 16:45–17:30, H 31

16:45 DS 10.1 Fachvortrag: Tiefenprofilanalyse leichter Elemente mit Monolagen Auflösung unter Verwendung hochenergetischer Ionen — •G. Dollinger, Christoph Frey, Andreas Bergmaier und Thomas Faestermann
17:00 DS 10.2 Fachvortrag: Ortsaufgelöste Röntgenabsorptionsspektroskopie an dünnen Kohlenstoffschichten — •Ch. Ziethen, O. Schmidt, G. Marx, G. Schoenhense, R. Frömter, J. Gilles, D. Hartmann, O. Gröning, C.M. Schneider und J. Kirschner
17:15 DS 10.3 Fachvortrag: Untersuchung von XPS-TOF Analysen mit Pinchplasma-Röntgenquellen — •O. Rosier, K. Bergmann, G. Schriever, G. Schönhense, M. Merkel und R. Lebert
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