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M: Metallphysik
M 32: Quasikristalle III
M 32.1: Vortrag
Freitag, 27. März 1998, 10:10–10:30, H 33
Imaging von diffuser Röntgenstreuung in Quasikristallen — •M. Estermann und W. Steurer — Laboratorium für Kristallographie, Eidgenössische Technische Hochschule Zürich, CH-8092 Zürich
Es wird eine Methode, basiered auf modernen Röntgen-Flächendetektoren, zum kontinuierlichen Erfassen und Abbilden (Imaging) des reziproken Raumes von Quasikristallen vorgestellt [1]. Diese Methode ist speziell geeignet zum Messen von flächig oder räumlich verteilter diffuser Streuung in Quasikristallen. Dabei wird der reziproke Raum lückenlos erfasst. Praktischerweise ist dies nur mit einem Flächendetektor möglich. Mit einem traditionellen Vierkreisdiffraktometer, welches punktweise den Streuraum abtastet, ist der Zeitbedarf prohibitiv. Die Entwicklung dieser neuen Methode war motiviert durch unser Interesse an Unordnungseffekten in (ansonsten perfekt langreichweitig geordneten) Quasikristallen. Erste Diffraktionsmessungen an der Europäischen Synchrotronstrahlungsquelle (ESRF) in Grenoble waren sehr erfolgreich [2], so dass nun in der Zwischenzeit verschiedene quasikristalline Al-Co-Ni Phasen temperaturabhängig mit dieser Imaging-Methode auf diffuse Streuung untersucht wurden.
[1] M. Estermann, W. Steurer, Phase Transitions (1997) in print
[2] ESRF Highlights 1995/1996, Imaging of weak diffuse scattering phenomena in quasicrystals