Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm
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O: Oberflächenphysik
O 34: Poster (II)
O 34.31: Poster
Donnerstag, 26. März 1998, 20:00–22:30, Bereich C
Pulsed Force Kraftmikroskopie an chemischen Oberflächenmustern ultradünner Polystyrol-b- Polyvinylpyridin Filmen — •K. Weishaupt3, J.P. Spatz1, M. Möller1, P. Eibeck1, J.A. Koenen2 und O. Marti3 — 1Universität Ulm, Abt. Organische Chemie III, D-89069 Ulm — 2WITec GmbH, Im Zeitlett 30, 89081 Ulm — 3Universität Ulm, Abt. Experimentelle Physik, D-89069 Ulm
Die Pulsed Force Kraftmikroskopie erlaubt neben der Abbildung der Topografie von weichen Proben ohne destruktive laterale Scherkräfte, die Bestimmung der lokalen Steifigkeit und Adhäsion durch Messung und Auswertung der Kraft-Distanzkurven bei jedem einzelnen Kontak der abtastenden Nadel mit der Probenoberfläche. Dies erlaubt die Abbildung des Wechselwirkungskontrasts zwischen den chemisch unterschiedlichen Materialien und der kraftmikroskopischen Nadel. Induziert durch die Wechselwirkung mit dem Substrat, bilden ultradünne Zweiblockcopolymerfilme (1-10nm) an der Luft- Polymergrenzfläche chemisch unterschiedliche Oberflächenmuster wie hexagonal geordnete, sphärische und über weite Bereiche ausgerichtete lineare Cluster im Nanometerbereich. Es resultieren Oberflächencluster des entnetzenden Blocks, welche durch den benetzenden isoliert mikrophasensepariert sind. Diese Filme werden mittels Pulse Force Mikroskopie charakterisiert.