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Regensburg 1998 – scientific programme

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O: Oberflächenphysik

O 34: Poster (II)

O 34.69: Poster

Thursday, March 26, 1998, 20:00–22:30, Bereich C

IR-Kontrast in der optischen Nahfeldmikroskopie — •Bernhard Knoll, Fritz Keilmann und Reinhard Guckenberger — Max-Planck-Institut für Biochemie, D-82152 Martinsried

Im Gegensatz zur optischen Nahfeldmikroskopie im Sichtbaren können Apertursonden im mittleren Infrarot wegen der zu hohen Cutoff-Verluste nicht eingesetzt werden. Stattdessen verwenden wir die Spitze unseres AFM als Streuzentrum für CO2-Laserstrahlung. Dieses Konzept der aperturlosen Sonde hat bereits im Sichtbaren [1], sowie bei Mikrowellen [2] zu hoher Auflösung weit unterhalb der Wellenlänge geführt.

Wir zeigen und analysieren IR-mikroskopische Bilder von dielektrischen und metallischen Oberflächen. Dabei unterscheiden wir qualitativ und quantitativ zwischen reinem IR-Kontrast und Artefakten, die durch die AFM-Regelung induziert werden. Die Ergebnisse beweisen materialabhängigen Kontrast bei gleichzeitig hoher räumlicher Auflösung (< 100  nm).

[1] Y. Martin, F. Zenhausern, H. K. Wickramasinghe, Appl. Phys. Lett. 68 2475 (1996).

[2] B. Knoll, F. Keilmann, A. Kramer, R. Guckenberger, Appl. Phys. Lett. 70 2667 (1997).

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