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Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

Di, 09:30–11:30 H18 SYC 1: Metallische Systeme
Di, 11:45–12:45 H18 SYC 2: Kurzvorträge I
Di, 14:00–15:30 H18 SYC 3: Halbleiter und Hochtemperatursupraleiter
Di, 15:45–17:00 H18 SYC 4: Kurzvorträge II
Di, 17:00–19:00 A SYC 5: Poster
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