Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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SYC: Symposium Raster-Sonden-Mikroskopie und -Spektroskopie bei tiefen Temperaturen

SYC 1: Metallische Systeme

SYC 1.1: Hauptvortrag

Dienstag, 24. März 1998, 09:30–10:00, H18

Kontrollierte Manipulation von Adpartikeln und Substratatomen mit dem Rastertunnelmikroskop — •K.H. Rieder und G. Meyer — Institut für Experimentalphysik, Freie Universität Berlin, Arnimallee 14, 14195 Berlin

Es wird ueber kontrollierte laterale und vertikale Manipulation einzelner Atome und kleiner Moleküle mit Hilfe eines kostengünstigen, vielseitigen Rastertunnel-Mikroskops mit exzellenter Stabilität, das im Temperaturbereich zwischen 15 und 300 K betrieben werden kann [1], berichtet. Neben der Manipulation von auf der Oberfläche adsorbierten Partikeln [2] ist jüngst auch der kontrollierte Eingriff in die oberste Substratschicht bis hin zu hochkoordiniert gebundenen Atomen gelungen [3]. Beispiele für Anwendungen dieser neuen Methode auf physikalische Fragestellungen werden gegeben und experimentelle Resultate hinsichtlich der Unterscheidung verschiedener Manipulationsarten [4] werden präsentiert. Vertikale Manipulation ist bisher neben Xe [2] auch mit Propen und CO gelungen. Implikationen zur chemischen Identifikation von Oberflächenspezies mit derart wohldefiniert präparierten Spitzen werden diskutiert.

[1] G. Meyer, Rev.Sci.Instr. 67, 2960 (1996)

[2] B. Neu, G. Meyer und K.H. Rieder, Mod.Phys.Lett. B9, 963 (1995)

[3] G. Meyer, S.Zöphel und K.H. Rieder, Phys.Rev.Lett. 77, 2113 (1996)

[4] L. Bartels, G. Meyer und K.H. Rieder, Phys.Rev.Lett. 79, 697 (1997)