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Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 12: Josephson-Elektronik

TT 12.4: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 15:30–15:45, H 19

Transferfunktion und thermisches Rauschen von YBCO dc
SQUIDs: Vergleich zwischen Theorie und Experiment
— •K. Barthel1, D. Kölle2, B. Chesca1, R. Dittmann1, S. Beuven1, A. Engelhardt1, E. Sodtke1 und A.I. Braginski11Institut für Schicht- und Ionentechnik, FZ Jülich, 52425 Jülich — 2II. Physikalisches Institut, Lehrstuhl für Angewandte Physik, Universität zu Köln

Wir haben die Transferfunktion und das thermische Rauschen von bikristallinen YBCO dc SQUIDs untersucht. Dabei wurde ein breiter Parameterbereich hinsichtlich Induktivität L, kritischem Strom I0 und Kontaktwiderstand R betrachtet. Die dimensionslosen Parameter βL=2LI00 und Γ=2π kBT/I0Φ0 wurden durch verschiedene Kontaktbreiten sowie durch Be- und Entladen der Kontakte mit Sauerstoff variiert. Ein Vergleich mit Vorhersagen aus numerischen Simulationsrechnungen sowie aus einer analytischen Beschreibung für den Grenzfall sehr kleiner βL≤ 0.3 und sehr großer Γ≥ 1[1] wird vorgestellt. Für dc SQUIDs mit großen Induktivitäten wurde eine deutliche Erhöhung der Transferfunktion durch Verwendung resistiver Shunts vorhergesagt [2]. Hierzu wurde ein Prozeß entwickelt, der durch in-situ Abscheidung von Au und ex-situ Aufstäuben von PdAu die Herstellung wohldefinierter Widerstände ermöglicht. In Vergleichsmessungen vor und nach dem Aufbringen der Shunts wurde deren Einfluß auf Transferfunktion und Flußrauschen untersucht. [1] B. Chesca, unveröffentlicht (1997) [2] K. Enpuku et al., IEEE Trans. Appl. Supercond. 5, 2762 (1995)

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