Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 12: Josephson-Elektronik

TT 12.7: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 16:30–16:45, H 19

Ein Raster-SQUID-Mikroskop für Raumtemperatur-Proben — •Jörg Dechert, Michael Mück und Christoph Heiden — Institut für Angewandte Physik, JLU-Gießen

Wir berichten über die Entwicklung eines Raster-SQUID-Mikroskops, bei dem sich die Probe auf Raumtemperatur befindet. Da sich die effektive Sensorfläche eines SQUID leicht unter 10 µm² bringen läßt, ist die erreichbare Ortsauflösung eines solchen Raster-SQUID-Mikroskops nur durch den Abstand zwischen SQUID und Probe begrenzt. Für die Anwendbarkeit eines solchen Mikroskops in der Praxis spielt es darüberhinaus keine Rolle, daß die zu untersuchende Probe bei Raumtemperatur verbleiben kann und somit schnell ein- und ausgebaut werden kann. Das Raster-SQUID-Mikroskop verwendet ein konventionelles Niob-SQUID als Sensor, das relativ einfach und reproduzierbar herzustellen ist. Durch Verwendung eines Fiberglas-Kryostaten mit einem dünnen Fenster an der Unterseite konnte trotz des hohen Temperaturgradienten ein Abstand zwischen SQUID und Probe von unter 100 µm realisiert werden. Die Probe wird mit einem computergesteuerten XY-Tisch unter dem Kryostaten verfahren. Erste Messungen mit diesem Raster-SQUID-Mikroskop zeigen eine Ortsauflösung in der Größenordnung von 100 µm und eine Auflösung des Magnetfeldes auf der Probe von etwa 1 pT / √Hz.

(gefördert durch das BMBF FKZ 13N6898)