Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 2: Transporteigenschaften und Flußverankerung in HTSL

TT 2.2: Vortrag

Montag, 23. März 1998, 10:45–11:00, H 18

Magnetooptische Mikroskopie an BSCCO-Bandleitern sowie an dünnen epitaktischen BSCCO-Schichten — •O. de Haas¹, A. Attemberger¹, A. Hütten², R. Schäfer¹, B. Holzapfel¹, K. Fischer¹ und L. Schultz¹ — ¹IFW Dresden, Inst. für Metallische Werkstoffe, Postf. 270016, 01171 Dresden — ²Fakultät Physik, Univ. Bielefeld, Universitätstr. 25, 33615 Bielefeld

Mit Hilfe der magnetooptischen Mikroskopie kann die Normalkomponente der Magnetfeldverteilung H_z(x,y) über der Oberfläche eines Supraleiters vermessen werden. Da aus den gemessenen Feldverteilungen auf die lokale Stromdichte j (x,y) des Supraleiters geschlossen werden kann [1], bietet diese Messmethode in Kombination mit mikrostruktureller Charakterisierung einen eleganten Zugang zu Mikrostruktur-Eigenschafts-Aussagen. Messungen wurden an laserabladierten epitaktischen BSCCO-Schichten sowie an BSCCO-Multifilamentleitern im Temperaturbereich zwischen 10K und 77K durchgeführt. Dabei steht im Vordergrund die Defektanalyse dieser Supraleiter im Hinblick auf die Verbesserung ihrer Eigenschaften für potentielle Anwendungen. Die Aussagen dieser Methode sind zur Zeit beschränkt auf eine Ortsauflösung von 10 µm.

[1] E. H. Brandt, Europhys. Lett.,22 (9) pp 735-740 (1993)