Regensburg 1998 – wissenschaftliches Programm

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TT: Tiefe Temperaturen

TT 8: Josephson-Kontakte

TT 8.9: Vortrag

Dienstag, 24. März 1998, 12:30–12:45, H 20

Ungew"ohnliches Skalierungsverhalten der kritischen Spannung in Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O₁₀ Korngrenzen-Kontakten — •J. C. Martinez, U. Frey, M. Basset, M. Blumers, K. "Ust"uner, and H. Adrian — Institut f"ur Physik, Johannes Gutenberg-Universit"at, 55099 Mainz

F"ur YBa₂Cu₃O₇ Korngrenzen-Kontakte wird f"ur die kritische Spannung j_cρ_n der Zusammenhang j_cρ_n ∝ j_c^α mit der kritischen Stromdichte j_c, dem normalleitenden spezifischen Barrierenwiderstand ρ_n und α ≈ 0.5 beobachtet [1]. Dabei kann j_c sowohl durch die Sauerstoffdotierung des Filmes als auch durch den Verkippungswinkel der Korngrenze unterdr"uckt werden. In Experimenten an Korngrenzen-Kontakten in d"unnen epitaktischen Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O₁₀ Filmen finden wir in "Ubereinstimmung mit YBa₂Cu₃O₇ Daten eine Unterdr"uckung des kritischen Stromes sowohl bei Sauerstoffreduktion als auch bei gr"o"seren Korngrenzwinkeln. Im Gegensatz zu dem beobachteten Verhalten an YBa₂Cu₃O₇ ist mit der Absenkung der kritischen Stromdichte keine Reduzierung des j_cρ _n-Produktes verbunden. Ausgangspunkt der Untersuchung sind stark O₂ dotierte Proben mit 24^∘ Korngrenzen, an denen wir j_c≈ 10⁵A/cm² und j_cρ _n≈1 mV finden. Sowohl durch Verwendung h"oherer Korngrenzwinkel als auch durch Sauerstoffreduktion wurde j_c um 2 bis 3 Gr"o"senordnungen abgesenkt. Die kritische Spannung der Proben mit reduziertem kritischen Strom steigt teilweise bis auf 3.5 mV an.

[1] R. Gross und B. Mayer Physica C 180 (1991) 235

Dieses Projekt wird gef"ordert durch den BMBF, FKZ 13N6916