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MS: Massenspektrometrie

MS 3: Elektrospraymassenspektrometrie, Cluster

MS 3.7: Vortrag

Montag, 15. März 1999, 18:00–18:15, PA 3

Streuung von hyperthermischen Helium-, Xenon- und Fullerenionen an Graphit — •Matthias Hillenkamp¹, Jörg Pfister¹, Roger P. Webb² und Manfred M. Kappes¹ — ¹Institut für physikalische Chemie, Universität Karlsruhe, Kaiserstr. 12, 76128 Karlsruhe — ²Department of Electronics and Electrical Engineering, University of Surrey, Guildford, GU2 5XH, UK

Die Streuung von hyperthermischen Heliumionen an Graphit läßt sich sehr gut durch binäre Stöße zwischen Projektil und einem Targetatom beschreiben. Während diese Stöße bei beliebigen Stoßparametern zu einer breiten Winkel- und Energieverteilung führen, werden sehr viel schwerere und größere Xenonprojektile nur unter bestimmten Stoßbedingungen an einem kollektiven Potential gestreut. Daraus folgt eine sehr viel schmalere (<5^∘ FWHM) und spekulare Winkelverteilung der neutralen Streuprodukte, die im wesentlichen der Divergenz des Primärstrahls entspricht.
Eine vergleichbare Situation ergibt sich beim Beschuß von Graphit mit ebenfalls (nahezu) sphärischen Fullerenionen. Auch in diesem Fall erhält man eine extrem schmale Winkelverteilung, allerdings müssen Kollektiveffekte wie Energieübertrag in innere Anregung und die Oberfläche berücksichtigt werden. Dazu wurden Molekulardynamikrechnungen, die Energie- und Winkelverteilungen beschreiben, durchgeführt.