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SYUS: Symposium Umweltphysik und Spektroskopie
SYUS 2: Postersitzung zum Symposium ’Umweltphysik und Spektroskopie’
SYUS 2.19: Poster
Tuesday, March 16, 1999, 11:30–13:00, K0
Sekundärelektronenemission eines Submikrometer SiO2-Teilchens — •J. Illemann, S. Wellert, S. Schlemmer und D. Gerlich — Institut für Physik, Technische Universität Chemnitz, 09107 Chemnitz
In einer Quadrupolfalle wird die Sekundärelektronenemission eines einzelnen SiO2 Sub-Mikrometerteilchens unter UHV-Bedingungen als Abfolge zeitlich getrennter Ereignisse gemessen. Dazu wird die Säkularfrequenz und damit die spezifische Ladung des Teilchens laufend über einen Streulichtnachweis ermittelt. Bei der Umladung durch Elektronenbeschuß sind Stufen in der spezifischen Ladung beobachtbar, die einer positiven Aufladung des Teilchens in ganzzahligen Vielfachen eines kleinsten Schritts, nämlich einer Elementarladung, entsprechen. Durch diesen Vorgang wird die absolute Ladung des Teilchens und damit auch seine absolute Masse bestimmt. Dabei wird eine Auflösung von einigen 10 ppm und eine relative Genauigkeit von 200 ppm erreicht. Aus der Abfolge der Ereignisse wird die Ausbeute der Sekundärelektronenemission als Funktion der Energie der Primärelektronen bestimmt. Die Aufladung der Probe stellt für herkömmliche Methoden zur Bestimmung der Sekundärelektronenausbeute von Isolatormaterialien eine große Schwierigkeit dar. Bei dem hier vorgestellten Verfahren bleiben die Teilchen durch den geringen Ladestrom dagegen quasi neutral. In der Zukunft ist es interessant zu untersuchen, wie der Umladungsprozeß durch die Adsorption anderer Materialien an der Oberfläche dieser Partikel modifiziert wird.