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T: Teilchenphysik

T 509: Halbleiterdetektoren 4

T 509.8: Talk

Thursday, March 18, 1999, 11:55–12:10, TE12

Ein Si-Mikrostreifendetektor mit zählender integrierter Ausleseelektronik zur Strahlprofilmessung in einem Compton-Polarimeter — •Kay Stammschroer, Dietmar Doll, Peter Fischer, Hans Krüger und Norbert Wermes — Physikalisches Institut, Universität Bonn, Nußallee 12, D-53115 Bonn

Am Elektronenbeschleuniger ELSA (Electronen Stretcher Anlage) der Universität Bonn sind Doppelpolarisationsexperimente in Planung. Um den Polarisationsgrad des Elektronenstrahls zu bestimmen, wird ein Compton-Polarimeter aufgebaut. Dort werden Photonen eines zirkular polarisierten Laserstrahles durch den Compton-Effekt an den Elektronen des ELSA-Strahles gestreut und das Rückstreuprofil der Photonen mit einem Detektormodul aufgenommen. In Abhängigkeit der Elektronenstrahlpolarisation verschiebt sich die Lage des Rückstreuprofils der Photonen in einer Raumrichtung um etwa ein Mikrometer. Aufgabe des Si-Detektormoduls ist es das Rückstreuprofil zu messen. Das Modul besteht aus einem Si-Streifendetektor, einem diskriminierenden Verstärker und einem digitalen Zählchip. Der Aufbau und die Funktionsweise des Detektormoduls sowie erste Messungen werden präsentiert.