Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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AM: Magnetismus

AM 4: Spektroskopie I

AM 4.8: Vortrag

Montag, 22. März 1999, 17:00–17:15, F4

Elementspezifische Untersuchung von magnetischen Domänen in Fe und Fe/Co Schichten mittels Scanning Transmission X-Ray Microscope — •H. Ohldag², J.B. Kortright¹, S.-K. Kim¹, T. Warwick¹, G. Meigs³ und N.V. Smith³ — ¹Materials Sciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory — ²Institut für Angewandte Physik, Universität Düsseldorf — ³Advanced Light Source, Berkeley

Magnetische Domänen in entmagnetisierten polykristallinen Fe-Filmen und in den einzelnen Schichten eines Fe/Co Schichtsystem wurden mit Hilfe eines Scanning Transmission X-Ray Microscope (STXM) elementspezifisch untersucht. Die Messungen wurden am Undulatorstrahlrohr 7.0 der Advanced Light Source durchgeführt. Als Kontrastmechanismus diente der magnetische Zirkulardichroismus an der 2p-Kante. Da die Strahlung des Undulators linear polarisiert war wurden Zirkularpolarisatoren in den Strahlengang eingebracht [1].

Der ca. 30 nm dicke Eisenfilm zeigt große 180 Grad Domänen mit Strukturen an den Domänenwänden. Durch Variation des Einfallswinkels zeigt sich, daß diese Strukuren senkrecht zur Oberfläche magnetisiert sind. Das Schichtsystem (20 nm Fe)/(2 nm SiC)/(20 nm Co) zeigt ebenfalls große 180 Grad Domänen und Strukturen an den Domänenwänden. Hierbei wurde jedoch beobachtet, daß die Feinstruktur für die einzelnen Schichten Unterschiede aufweist.

Es wird gezeigt, daß STXM in Verbindung mit einem hochauflösendem Monochromator eine geeignete Ergänzung der bereits existierenden Abbildungsverfahren magnetischer Strukturen darstellt, und die Möglichkeit quantitativer Aussagen bietet. [1] J.B. Kortright et al, Appl. Phys. Lett. 71(11), 1446, (1997).