Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

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DF: Dielektrische Festkörper

DF 6: Poster

DF 6.9: Poster

Donnerstag, 25. März 1999, 09:30–12:30, Aula

Rasterkraftmikroskopie an latenten Ionenspuren auf Polyimid (Kapton) — •Frank Ohnesorge, Andreas Müller, Christian Müller, Reinhard Neumann und Christina Trautmann — Gesellschaft für Schwerionenforschung, Planckstr. 1, D-64291 Darmstadt, FRG

Polyimid-Folien von 25 Mikrometern Dicke wurden mit 197Au(24+)-Ionen der Energie 11.4 MeV/Nukleon am GSI-Linearbeschleuniger UNILAC unter senkrechtem Einfall bestrahlt. Mittels Rasterkraftmikroskopie in Wasser bei minimierten Abbildungskräften der Größenordnung 100pN konnten die latenten Ionenspuren sichtbar gemacht werden. Diese stellen ringwallartige Erhebungen von etwa 5-10 nm Höhe dar, die im wesentlichen einen Innendurchmesser von ca. 5-10 nm haben und einen Außendurchmesser im Bereich von 20-40 nm. Ein Einfluß der Flüssigkeit auf das Erscheinungsbild der Spuren läßt sich zur Zeit noch nicht ausschließen.

Ergänzend sei auf kraftmikroskopische Untersuchungen einer anderen Arbeitsgruppe an latenten Ionenspuren auf dünnen Schichten verschiedener Polymere mit ähnlichen Befunden hingewiesen [1].

[1] R.M. Papaleo, L.S. Farenzena, M.A. de Araujo, R.P. Livi, Nucl. Instr. and Meth. B (1998), in press