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Münster 1999 – scientific programme

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DS: Dünne Schichten

DS 10: Schichtabscheidung

Monday, March 22, 1999, 15:30–16:30, H 55

15:30 DS 10.1 Fachvortrag: In-situ-Beobachtung der Rekristallisation beim Annealen von Solid-Phase-Epitaxie-Schichten mittels Reflektometermessungen in einer MBE-Anlage — •Matthias Bauer, Michael Oehme, Georg Eifler und Meinrad Sauter
15:45 DS 10.2 Fachvortrag: Epitaktische Abscheidung von Ni-Filmen auf Ioneneinkristallen — •K. Thiele, P. Troche, C. Brandt, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt
16:00 DS 10.3 Fachvortrag: Influence of different substrates on the texture of thin Co films — •Dilip Sarkar
16:15 DS 10.4 Fachvortrag: Herstellung und Charakterisierung biaxial texturierter Cer-Gadolinium-Oxid Filme mittels ionenstrahlunterstützter Deposition — •J. Dzick, J. Wiesmann, J. Hoffmann und H.C. Freyhardt
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