Münster 1999 – wissenschaftliches Programm

Bereiche | Tage | Auswahl | Suche | Downloads | Hilfe

DS: Dünne Schichten

DS 18: Charakterisierung mittels SXM-Techniken III

DS 18.1: Hauptvortrag

Dienstag, 23. März 1999, 15:00–15:45, PC 7

Der Einfluss der Temperatur auf die mechanischen Eigenschaften von dünnen, organischen Schichten untersucht mit dynamischer Rasterkraftmikroskopie — •S. Hild und O. Marti — Abteilung Experimentelle Physik, Universität Ulm, D-89069 Ulm

Bisher konnten die Temperaturabhängigkeit der mechanischen Eigenschaften bei Phasenübergängen von Polymeren nur auf makroskopischer Skala untersucht werden. Die damit ermittelten Materialkennwerte können nur bedingt auf Oberflächen oder dünnen Schichten übertragen werden. Mechanische Oberflächeneigenschaften können mittels Rasterkraftmikroskopie (RKM) untersucht werden. Die Kombination eines RKMs mit einer Heizeinheit erlaubt die temperaturabhängige Charakterisierung von Oberflächen. Es wurden Polystyrolfilmen mit unterschiedlicher Glasübergangstemperatur Tg in einem Temperaturbereich von 30 - 70 ^oC mittels Kraft-Distanz-Kurven (KDK) und Amplituden/Frequenzspektren (AFS) untersucht. Die KDK zeigen oberhalb von Tg zum einen die Abnahme in der lokalen Steifigkeit der Probe, zum anderen die Zunahme der Adhäsionskraft. In den AFS zeigen sich 20 ^oC unterhalb von Tg charakteristische Veränderungen im Resonanzspektrum. Die Veränderungen in der Adhäsionskraft und den Resonanzspektren können durch eine veränderte lokale Kettenbeweglichkeit erklärt werden.